TLA6403邏輯分析儀| TLA6403的詳細(xì)資料:
邏輯分析儀| TLA6403邏輯分析儀| TLA6403
邏輯分析儀價(jià)格經(jīng)濟(jì),為調(diào)試、驗(yàn)證和優(yōu)化數(shù)字系統(tǒng)功能提供了所需的性能。TLA6400系列還提供了一套完善的信號(hào)完整性調(diào)試工具,可以迅速隔離、識(shí)別和檢定難檢問(wèn)題。它全面支持當(dāng)前應(yīng)用,您可以獲得理想的工具,幫助您解決當(dāng)前所有數(shù)字設(shè)計(jì)調(diào)試挑戰(zhàn)。
功能 | 優(yōu)點(diǎn) |
40 ps分辨率 | MagniVu™采集技術(shù),準(zhǔn)確觀察系統(tǒng)中的信號(hào)關(guān)系。 |
狀態(tài)采集 | 時(shí)鐘速率高達(dá)667 MHz,數(shù)據(jù)速率高達(dá)1333 Mb/s,對(duì)zui快速的同步總線進(jìn)行采樣。 |
15英寸顯示器 | 大型顯示器,并可選配觸摸屏,查看更多數(shù)據(jù),高效瀏覽數(shù)據(jù)。 |
4種型號(hào) | 34條、68條、102條或136條通道可供選擇,高達(dá)64 Mb記錄長(zhǎng)度,提供靈活的解決方案,適應(yīng)任何預(yù)算。 |
拖放式觸發(fā) | 把8種不同觸發(fā)類型的任意一種觸發(fā)類型從表格拖到波形上,TLA將自動(dòng)設(shè)置觸發(fā)條件。消除錯(cuò)誤,改善可重復(fù)性,節(jié)約時(shí)間。 |
毛刺觸發(fā)和存儲(chǔ) | 可以觸發(fā)及突出顯示潛在的信號(hào)完整性問(wèn)題。TLA6400系列不僅能夠觸發(fā)問(wèn)題,還能夠用紅色突出顯示懷疑的問(wèn)題,從而能夠簡(jiǎn)便確定需要進(jìn)一步考察哪些信號(hào)。 |
iCapture | 使用泰克*的iCapture功能,把懷疑的信號(hào)傳送到TLA6400系列的模擬輸出上,而不需要使用示波器探頭重復(fù)探測(cè),縮短調(diào)試時(shí)間。 |
iView | 以時(shí)間相關(guān)的方式同時(shí)觀察邏輯分析儀數(shù)據(jù)和示波器數(shù)據(jù),在數(shù)字域和模擬域中追蹤信號(hào)完整性問(wèn)題 |
YCQR2-Z-45KW YCQR2-Z-55KW YCQR2-Z-75KW YCQR2-Z-90KW YCQR2-Z-115KW YCQR2-Z-132KW YCQR2-Z-160KW RT31-6/1B RT31-8/1B 7.5KW RT41-8/1B 11KW RT42-8/1B 16KW RT51-8/2D 22KW RT52-8/2D 30KW RT54-132M1-6/1B RT54-132M2-6/1B RT54-160M1-6/1B RT54-160M2-6/1B RT54-180L-8/2J RT03-6/1B RT03-4/1B RT11-6/1B 2.2KW RT11-6/1B 2.2KW RT21-6/1B 5KW RT22-6/1B 7.5KW JD1 II A-11 JD1 II A-40 JD1IIA-90 JD1A-11 JD1A-40 JD1A-90 JD1B-40 JD1B-11 JD1B-90 JD1C-11 JD1C-40 JD1C-90 JD1A-40S JD6A-40S CTK-A40C CTK-A90C JZT3 JZT4 ZTK-1 ZLK-1 JDK-1 JDK-2 JDK-3 JDZ-40 DK-1B DK-1C DK-2 DK-2A DK-2B DK-2C DK-2E DK-2D DK-2F TC-1A TC-1B
工作原理
邏輯分析儀的工作過(guò)程就是數(shù)據(jù)采集、存儲(chǔ)、觸發(fā)、顯示的過(guò)程,
邏輯分析儀
由于它采用數(shù)字存儲(chǔ)技術(shù),可將數(shù)據(jù)采集工作和顯示工作分開(kāi)進(jìn)行,也可同時(shí)進(jìn)行,必要時(shí),對(duì)存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)可以反復(fù)進(jìn)行顯示,以利于對(duì)問(wèn)題的分析和研究。
將被測(cè)系統(tǒng)接入邏輯分析儀,使用邏輯分析儀的探頭(邏輯分析儀的探頭是將若干個(gè)探極集中起來(lái),其觸針細(xì)小,以便于探測(cè)高密度集成電路)監(jiān)測(cè)被測(cè)系統(tǒng)的數(shù)據(jù)流,形成并行數(shù)據(jù)送至比較器,輸入信號(hào)在比較器中與外部設(shè)定的門限電平進(jìn)行比較,大于門限電平值的信號(hào)在相應(yīng)的線上輸出高電平,反之輸出低電平時(shí)對(duì)輸入波形進(jìn)行整形。經(jīng)比較整形后的信號(hào)送至采樣器,在控制下進(jìn)行采樣。被采樣的信號(hào)按順序存儲(chǔ)在存儲(chǔ)器中。采樣信息以“先出”的原則組織在存儲(chǔ)器中,得到顯示命令后,按照先后順序逐一讀出信息,按設(shè)定的顯示方式進(jìn)行被測(cè)量的顯示。
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