薄膜測厚儀的技術優(yōu)勢

        薄膜測厚儀不僅用于薄膜、電池隔膜、電容器薄膜材料等軟質(zhì)材料的厚度測量，還可用于以下厚度測量：
         (1)金屬箔等硬質(zhì)材料的厚度測量；
         （2）接觸測試原理可以更有效地檢測太陽能硅片上各點的厚度值；
         （3）通過調(diào)整測頭，可以完成紙張規(guī)定的壓力和面積，可以測試各種紙張和紙板材料的厚度；
          薄膜測厚儀的技術優(yōu)勢：
         1.微電腦控制，大液晶顯示
        2.進口高精度傳感器，保證測試精度
        3、接觸面積和測量壓力嚴格按照標準設計，同時支持各種非標定制
        4、測頭自動升降，避免人為因素造成的系統(tǒng)誤差
        5. 手動和自動雙重測量模式更方便客戶選擇
        6.配備微型打印機，實時數(shù)據(jù)顯示，自動統(tǒng)計，打印，輕松快速獲取測試結果
        7、打印數(shù)值、最小值、平均值及各測量結果，方便用戶分析數(shù)據(jù)
        8、儀器自動保存100多組測試結果，可隨時查看和打印
        9、標準量塊校準，方便用戶快速校準設備
        10、測厚儀配備專用自動取樣器，可實現(xiàn)一鍵自動多點測量，人為誤差小
        11. 軟件提供測試結果圖形化統(tǒng)計分析，準確直觀地向用戶展示測試結果
        12、配備標準RS232接口，方便系統(tǒng)與計算機的外接和數(shù)據(jù)傳輸